使用成像共聚焦顯微鏡對增材制造表面形貌的穩(wěn)健測量

作者： 納奇斯維拉爾 ， 羅杰阿蒂加斯 ，森索法技術(shù)， S . L .（西班牙）；馬蒂 Duocastella ，大學(xué)。德巴塞羅那（西班牙）；吉列姆·卡萊斯·桑塔卡納，森索法爾技術(shù)公司（西班牙）

2023年6月27日·北京時間10點(diǎn)50分至11點(diǎn)10分|國際會議中心14c室

Narcis Vilar的論文介紹了一種用于測量增材制造（AM）零件表面紋理的優(yōu)化光學(xué)系統(tǒng)。該系統(tǒng)具有寬視場和高數(shù)值孔徑，可應(yīng)對表面不規(guī)則性和反射率變化帶來的挑戰(zhàn)。將市售目鏡與定制設(shè)計的管狀鏡頭集成可實(shí)現(xiàn)放大率和適用于AM零件特征的有效數(shù)值口徑。 該系統(tǒng)采用共焦式HiLo技術(shù)，并成功地表征了金屬AM部件。還討論了提高性能潛力的顯微鏡物鏡的設(shè)計。此外，使用高動態(tài)范圍（HDR）的方法，結(jié)合多個低動態(tài)范圍圖像，使重建一個單一的地形圖，以解決反射率的變化?？傮w而言，本文證實(shí)了這種光學(xué)系統(tǒng)，其廣泛的空間特征覆蓋范圍和HDR能力，提供了一個多功能的解決方案，適用于各種科學(xué)和工業(yè)方面。