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澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化

澤攸ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、集成式oxford能譜儀，同時滿足形貌觀測及元素分析需求。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng),是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量

PicoFemto掃描電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測量系統(tǒng)，將MEMS氣氛環(huán)境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環(huán)境并且可以對實驗樣品原位加熱。

ZEM15原位拉伸掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化產(chǎn)品介紹ZEM15原位拉伸-掃描電鏡采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺，實現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)的原位拉伸/壓縮/彎曲實驗。原位拉伸臺參數(shù)載荷范圍：0-1000N位移分辨率：2

蔡司離子束顯微鏡ORION NanoFab集鎵、氖、氦三種離子束于一身，是能實現(xiàn)從微米到納米微加工的成像加工系統(tǒng)。