PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng)

澤攸STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量

澤攸STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量，并可在電學(xué)測(cè)量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、高分辨地對(duì)樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征，大大地?cái)U(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。

透射電鏡原位STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng)是在標(biāo)配的STM-TEM樣品桿上集成光學(xué)模塊，從而實(shí)現(xiàn)在透射電鏡中進(jìn)行原位光電測(cè)量或者光譜學(xué)表征研究。

性能指標(biāo)

透射電鏡指標(biāo)：

● 兼容指*電鏡型號(hào)及極靴；

● 可選雙傾版本，雙傾電學(xué)測(cè)量樣品桿Y軸傾角±25°（同時(shí)受限于極靴間距）；

● 保證透射電鏡原有分辨率。

電學(xué)測(cè)量指標(biāo)：

● 包含一個(gè)電流電壓測(cè)試單元；

● 電流測(cè)量范圍：１ nA-30 mA，9個(gè)量程；

● 電流分辨率：優(yōu)于100 fA；

● 電壓輸出范圍：普通模式±10 V，高壓模式±150 V；

● 自動(dòng)電流-電壓（I-V）測(cè)量、電流-時(shí)間（I-t）測(cè)量，自動(dòng)保存。

掃描探針操縱指標(biāo)：

● 粗調(diào)范圍：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；

● 細(xì)調(diào)范圍：XY方向18 um，Z方向1.5 um；

● 細(xì)調(diào)分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。

光纖指標(biāo)：

● 光纖外徑250 um，保證電鏡系統(tǒng)真空指標(biāo)；

● 可選光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡；

● 可選SMA接頭、FC接頭。

產(chǎn)品特色

（1）采用雙向光纖，可應(yīng)用于CL光譜、光電探測(cè)及電致發(fā)光光譜等研究；

（2）光電一體化解決方案，具有高拓展性；

（3）高穩(wěn)定性，保證電鏡原有分辨率；

（4）很長(zhǎng)的壽命