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澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡操作簡便,僅需鼠標即可完成所有操作,一體式聚光鏡,無需手動調(diào)節(jié)光闌。
澤攸ZEM18臺式掃描電子顯微鏡信號采集帶寬高達10M,掃描速度快,視頻模式下實時觀察樣品,無重影、拖影,不錯過每一個細節(jié)。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺(拉伸臺、加熱臺、TEC冷臺等原位測試系統(tǒng))
▲ 即插即用:用戶可以快速使用,無需復雜的安裝過程。 ▲ 體積小巧:便于放置在普通的實驗臺面上,節(jié)省空間。 ▲ 高性價比:預對中鎢燈絲設(shè)計,用戶可以自行更換,降低了維護成本。 ▲ 操作簡易:全中文交互界面,簡潔明了,通過鼠標即可完成所有操作。 ▲ 放大倍數(shù):最高放大可達15萬倍,提供優(yōu)質(zhì)清晰的圖像。 ▲ 多級防震:無需額外配置減震臺,保證了成像的穩(wěn)定性。
PicoFemto掃描電鏡原位光電力一體化系統(tǒng),集成了掃描探針控制單元,可在三維空間內(nèi)對電學探針與光纖探針進行亞納米級別精度的操縱與定位。
ZEM15原位拉伸-掃描電鏡采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍,加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào),搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺,實現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)的原位拉伸/壓縮/彎曲實驗。
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