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澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
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澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量,并可在電學測量的同時,動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態(tài)進行綜合表征,大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。
透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng)是在標配STM-TEM樣品桿內(nèi)集成納牛力傳感器,實現(xiàn)高精度的力學及電學測量。
性能指標
透射電鏡指標:
● 兼容指*電鏡型號及極靴;
● 可選雙傾版本,雙傾電學測量樣品桿Y軸傾角±25°(同時受限于極靴間距);
● 保證透射電鏡原有分辨率。
電學測量指標:
● 包含一個電流電壓測試單元;
● 電流測量范圍:1 nA-30 mA,9個量程;
● 電流分辨率:優(yōu)于100 fA;
● 電壓輸出范圍:普通模式±10 V,高壓模式±150 V;
● 自動電流-電壓(I-V)測量、電流-時間(I-t)測量,自動保存。
掃描探針操縱指標:
● 粗調(diào)范圍:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;
● 細調(diào)范圍:XY方向18 um,Z方向1.5 um;
● 細調(diào)分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。
力學傳感器指標:
● 懸臂梁彈性范圍1 N/m~100 N/m;
● 載荷分辨率優(yōu)于5 nN(使用1 N/m懸臂梁時);
● 自動測量力-距離曲線,自動保存。
產(chǎn)品特色
(1)可保證電鏡原有分辨率,即使在球差內(nèi)也可以拍到清晰原子像;
(2)良好的操縱穩(wěn)定性,壓電陶瓷驅(qū)動方式,保證高精度的操縱。樣品桿具有很高的穩(wěn)定性 ,探針移動平穩(wěn),實現(xiàn)高分辨原位觀察實驗;
(3)操作簡便,軟件界面友好易操作??刂破骷呻娏麟妷簻y試單元,滿足大多數(shù)實驗需求。位移粗調(diào)和細調(diào)全軟件操作;
(4)力電一體化解決方案,力學和電學配置可滿足大部分測試需求;
(5)很長的壽命
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