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PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng)可在電學(xué)測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。

PicoFemto透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng)，同時集成了力學(xué)測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000 ℃加熱的同時進行定量的力學(xué)測量。

PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)是原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境（包括力、熱、光、電等），從而對材料或者器件等樣品實現(xiàn)多重激勵下的原位表征。