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當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析澤攸臺(tái)式掃描電鏡ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡

ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M,掃描速度快,視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品,無重影、拖影,不錯(cuò)過每一個(gè)細(xì)節(jié)。

產(chǎn)品型號(hào):
更新時(shí)間:2024-11-13
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:1224
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ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M,掃描速度快,視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品,無重影、拖影,不錯(cuò)過每一個(gè)細(xì)節(jié)。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺(tái)(拉伸臺(tái)、加熱臺(tái)、TEC冷臺(tái)等原位測(cè)試系統(tǒng))。

ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡參數(shù):

環(huán)境要求:AC 220V,50Hz,1kW,無需減震臺(tái)

加速電壓:3kV~18kV連續(xù)可調(diào),1kV步進(jìn)

電子槍:預(yù)對(duì)中鎢燈絲,一體式聚光鏡,無需手動(dòng)調(diào)節(jié)物鏡光闌

放大倍數(shù):500 --150000倍

探測(cè)器:二次電子探測(cè)器、四分割背散射電子探測(cè)器、集成式能譜儀

樣品臺(tái)行程:XY 兩軸電動(dòng) 行程:30 mm×30 mm

樣品尺寸:Φ50×35(H)mm

工作距離:5-35mm

真空模式

高真空模式:抽真空時(shí)間小于90s

低真空模式:選配,低真空1-100Pa自動(dòng)控制

成像模式

視頻模式:512x 512像素,無需小窗口掃描;

快速模式:掃描時(shí)間小于3秒,512 x 512像素;

慢掃模式:掃描時(shí)間小于40秒,2048 × 2048像素;

圖像格式:BMP, TIFF,JPEG,PNG

導(dǎo)航功能:光學(xué)CCD導(dǎo)航

自動(dòng)功能:一鍵自動(dòng)配置亮度、對(duì)比度、聚焦

尺寸:主機(jī)283×553×505 mm  機(jī)械泵340×160×140 mm

拓展功能:兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺(tái)(拉伸臺(tái)、加熱臺(tái)、TEC冷臺(tái)等原位測(cè)試系統(tǒng))

產(chǎn)品特色

操作簡(jiǎn)便: 僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作,一體式聚光鏡,無需手動(dòng)調(diào)節(jié)光闌

成像快速: 抽真空時(shí)間小于90s,

顯示流暢: 信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M,掃描速度快,視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品,無重影、拖影,不錯(cuò)過每一個(gè)細(xì)節(jié)

信號(hào)多樣: 二次電子探測(cè)器、四分割背散射電子探測(cè)器、集成式能譜儀等多種探測(cè)器。(SE+BSE模式:同時(shí)采集,任意疊加)

性能突出:加速電壓連續(xù)可調(diào),選配低真空模式,適應(yīng)多種類型樣品和原位測(cè)試功能

體積小巧:無需特裝設(shè)備間和額外減震臺(tái),常規(guī)市電即插即用

原位拓展:豐富的原位拓展功能,可兼容自研原位電鏡附件(拉伸樣品臺(tái)、加熱臺(tái)、TEC冷臺(tái)等)

售后無憂: 國(guó)內(nèi)自主研發(fā),提供完備的高性價(jià)比售后服務(wù)。廠家在北京、上海、安徽、東莞等多個(gè)辦事處提供樣機(jī)demo服務(wù)。

產(chǎn)品附件:

(1)拉伸臺(tái)

ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡

技術(shù)參數(shù):

(2)TEC冷臺(tái)

ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡

技術(shù)參數(shù):

1、溫度范圍:-60℃--50℃

2、功率:~45W

3、控溫精度:±0.01℃

4、高精度溫控儀,搭配相應(yīng)軟件,數(shù)據(jù)可一鍵導(dǎo)出


應(yīng)用案例:

ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡 ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡

原材料檢測(cè)                                                   工業(yè)檢測(cè)

ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡 ZEM18臺(tái)式掃描電子顯微鏡

電子元器件檢測(cè)                                        其他樣檢測(cè)


 

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