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蔡司 GeminiSEM系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無論您從事的研究方向是什么,GeminiSEM都可以滿足您的需求。創(chuàng)新的電子光學(xué)系統(tǒng)和新型樣品腔室設(shè)計可讓您擁有更佳的圖像質(zhì)量、易用性和靈活性。
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長久以來,蔡司 GeminiSEM系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無論您從事的研究方向是什么,GeminiSEM都可以滿足您的需求。創(chuàng)新的電子光學(xué)系統(tǒng)和新型樣品腔室設(shè)計可讓您擁有更佳的圖像質(zhì)量、易用性和靈活性。
蔡司 GeminiSEM系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡兼具出色的成像和分析能力,不依靠浸沒式物鏡依然可以輕松實現(xiàn)1 kV以下的亞納米級分辨力。以下內(nèi)容可以使您進(jìn)一步了解Gemini電子光學(xué)系統(tǒng)的三大設(shè)計,探索蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM的應(yīng)用潛能。
不導(dǎo)電礦物斷裂表面的納米級特征
· 更靈活的成像工具 – 配備Gemini 1鏡筒的蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360可以實現(xiàn)各種樣品的高分辨成像、分析和各種應(yīng)用需求的拓展。
· 更強(qiáng)大的分析能力 - 配備Gemini 2鏡筒的蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460可應(yīng)對更加復(fù)雜的分析工作。連續(xù)可調(diào)的大束流使您可以在成像和分析條件之間無縫切換。
· 更表征體驗 - 蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560配有Gemini 3鏡筒及其新型電子光學(xué)引擎,讓它在各種工作條件下均可發(fā)揮該系列出色的分辨率特性。
(一)、產(chǎn)品優(yōu)勢
產(chǎn)品系列:了解三種型號的所有詳情,選擇符合您應(yīng)用需求的一款。
1、蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360
蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360,它是中心實驗室的得力助手,在科研和工業(yè)領(lǐng)域中具有高通用性。
(1) 靈活的樣品適用性
· 場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360是中心實驗室的理想選擇,在科研和工業(yè)中具有非常高的通用性。
· 產(chǎn)品搭載Gemini 1鏡筒,在低電壓下依然具有高分辨成像能力,讓您輕松獲取樣品極表面高分辨信息。
· 通過鏡筒內(nèi)二次電子和背散射電子同時成像,即使對于電子束敏感樣品也可以獲取高分辨的表面形貌和成分襯度。
· 在低真空下(NanoVP)拍攝不導(dǎo)電樣品時,依然可以通過鏡筒內(nèi)Inlens探頭獲得優(yōu)異襯度:無荷電高分辨。
兩個平行設(shè)計的鏡筒內(nèi)探測器為樣品表征提供更全面的信息
(2)出色的用戶體驗
· 場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360可提供出色的用戶體驗:該產(chǎn)品具有廣闊的視野范圍和大體積腔室,可以輕松檢測大尺寸樣品。
· 利用蔡司ZEN Connect軟件可在多種顯微鏡(例如光鏡、電鏡、X射線顯微鏡)之間進(jìn)行無縫導(dǎo)航。
· 使用蔡司自動對焦和智能探測器等自動功能輕松采集清晰、銳利的圖像。
· 具有對稱的EDS端口和共面的EDS / EBSD幾何設(shè)計,可高效執(zhí)行成像和分析工作流程。
· 可有效延長系統(tǒng)正常運(yùn)行時間,并讓您從容地進(jìn)行計劃內(nèi)維護(hù)。
多功能的樣品腔室滿足您不同應(yīng)用需求的個性化配置。
(3)優(yōu)異的功能擴(kuò)展性
· 可升級的系統(tǒng)可有效減少重復(fù)投資。因此,我們將場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360融入蔡司ZEN core軟件生態(tài)系統(tǒng)中。
· ZEN軟件生態(tài)系統(tǒng)包括:ZEN Connect可關(guān)聯(lián)多儀器、多尺度數(shù)據(jù);ZEN Intellesis是基于AI的自動分析工具; ZEN數(shù)據(jù)存儲功能可以讓您在一個數(shù)據(jù)中心節(jié)點(diǎn)上管理不同儀器的實驗數(shù)據(jù)。
· 可訪問作為APEER社區(qū)成員的其他用戶創(chuàng)建的工作流和腳本,幫助您解決難題。
· .明確的升級路徑幫助您的設(shè)備更好地升級新的功能。
ZEN Connect將多種表征手段的數(shù)據(jù)進(jìn)行整合,獲取樣品全面信息。
2、蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460
蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460,具有更強(qiáng)大的分析能力,可進(jìn)行高效分析和自動化的工作流程。
(1) 利用高分辨率和大束流
· 場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460專為有挑戰(zhàn)性的分析任務(wù)而設(shè)計,可進(jìn)行高效分析和自動的工作流程。
· Gemini 2鏡筒可快速執(zhí)行高分辨成像和大束流分析:從小束流-低電壓無縫切換到大束流-高電壓。
· 并行使用多個探測器,提供樣品的數(shù)據(jù)。
· 多接口腔室設(shè)計可兼容更多探測器,以進(jìn)行高效分析。
· 使用新的VP模式在大束流下采集EBSD譜圖可達(dá)4000點(diǎn)/秒的標(biāo)定率。
· 對于化學(xué)成分和晶體取向的分析,具有兩個對稱的EDS端口和共面的EDS/EBSD幾何學(xué)設(shè)計,可實現(xiàn)更快速度且無陰影的面分析結(jié)果。
幫助您快速分析的同時兼顧大束流和高分辨。
(2) 定制化的自動化工作流程
· 強(qiáng)大的分析功能與自動化流程相結(jié)合,讓您的分析工作更進(jìn)一步。并且蔡司還可以通過Python腳本來定制您自己的自動化實驗。
· 修改實驗過程并根據(jù)您的要求定制結(jié)果輸出。
· STEM三維成像功能:將自動傾斜和旋轉(zhuǎn)與蔡司特征點(diǎn)跟蹤相結(jié)合。將所有自動對齊的圖像發(fā)送到專有的3D重構(gòu)軟件后,生成具有納米級分辨率的3D形貌。
· 當(dāng)您需要測試材料的加工特性時,蔡司將為您提供自動化的原位加熱和拉伸實驗平臺:它可以讓您自動觀察在加熱和拉伸條件下的材料,同時動態(tài)繪制應(yīng)力-應(yīng)變曲線。
多功能的樣品腔室滿足您不同應(yīng)用需求的個性化配置。
(3) 為您帶來更多可能性
· 基于Gemini 2鏡筒設(shè)計,即使在低電壓時,也可以通過調(diào)高束流密度來提高分析能力。
· 能夠使系統(tǒng)與各種配件相兼容。多功能型腔室不僅可以配置分析附件,還可以配置原位臺、冷凍傳輸系統(tǒng)和納米探針。
· .因此,您可以隨時對儀器進(jìn)行配置更改和升級。
· 所有GeminiSEM均已融入蔡司ZEN core生態(tài)系統(tǒng),您可以利用ZEN Connect、ZEN Intellesis和ZEN分析模塊,以獲取報告和GxP工作流程。
讓您的場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460成為原位實驗室。
3、蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560
蔡司場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560:表征體驗,讓您輕松對困難樣品進(jìn)行1 kV以下的高分辨、無畸變成像。
(1) 表面成像的新標(biāo)準(zhǔn)
· 場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560全面提升你的電鏡體驗,即使在1kV以下也可以很輕松地對電子束敏感的樣品進(jìn)行無畸變高分辨的成像。
· Gemini 3鏡筒搭載Nano-twin物鏡和新型電子光學(xué)引擎Smart Autopilot,可在1 kV以下對樣品進(jìn)行1 nm以下分辨率的無漏磁成像-無需樣品臺偏壓或單色器。
· 通過新的可變氣壓模式和檢測系統(tǒng)對不導(dǎo)電及氣壓敏感的樣品進(jìn)行成像:將真空敏感樣本通過低真空樣品交換室進(jìn)入電鏡腔室,可以維持樣品最本征的結(jié)構(gòu)后快速成像。
· 利用帶雙EDS接口的新型大型腔室,輕松分析復(fù)雜樣品。通過優(yōu)化的探測器幾何設(shè)計確??焖?、無陰影的圖像。
在低電壓下表征不導(dǎo)電礦物顆粒的表面:GeminiSEM 560,800 V, Inlens SE。
(2) 融合專業(yè)知識
· 新的電子光學(xué)引擎Smart Autopilot可全面提升對高難度樣品的成像體驗。
· 新系統(tǒng)的大視野功能可讓您輕松進(jìn)行樣品導(dǎo)航。
· Smart Autopilot可讓您節(jié)省時間,同時避免進(jìn)行復(fù)雜的的光路對中:該引擎可自動調(diào)整光路,讓圖像從一倍放大至五十萬倍時始終保持光路對中聚焦良好的狀態(tài)。
· Smart Autopilot包含蔡司自動對焦和自動光路對中功能,可在幾秒內(nèi)為您提供清晰、銳利的圖像。
· Python腳本能夠在自動化工作流程(例如3D STEM斷層成像)中集成軟件功能。
CeO2納米顆粒的3D STEM成像。GeminiSEM 560,aSTEM,明場像,30 kV。
(3) 體驗出色的襯度
· 樣品拍攝中的成像條件,意味著您結(jié)合了參數(shù)組合來獲得的圖像:所以拍圖訣竅就是找到它。
· Gemini鏡筒技術(shù)及其無漏磁成像技術(shù)和全新的Gemini 3鏡筒可使您找到這些成像條件,并從樣品中發(fā)現(xiàn)新的信息。
· 場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560可以輕松拍攝磁疇襯度,它在樣品上的磁場小于2 mT。
· 使用帶能量過濾器的Inlens背散射探測器進(jìn)行能量分辨背散射電子成像,同時通過環(huán)形背散射探測器進(jìn)行角分辨背散射電子成像。
· 通過ZEN Connect對所有數(shù)據(jù)進(jìn)行整合,輕松生成報告。
成像條件:釹鐵硼磁鐵的磁疇襯度
(二)、洞悉產(chǎn)品背后的科技----Gemini電子光學(xué)系統(tǒng)
1、 Gemini 1:經(jīng)典傳承
場發(fā)射掃描電鏡可實現(xiàn)高分辨成像離不開其性能優(yōu)異的電子光學(xué)鏡筒。Gemini可在任意樣品上展現(xiàn)出色的成像分辨力,尤其是在低加速電壓下仍可輕松實現(xiàn)高分辨成像。
Gemini鏡筒具有以下三個主要特點(diǎn):
· Gemini物鏡的設(shè)計結(jié)合了靜電透鏡和磁透鏡,在提高其電子光學(xué)性能的同時將它們對樣品的影響降至更低。即使對具挑戰(zhàn)的樣品(例如磁性材料)也能進(jìn)行高品質(zhì)成像。
· Gemini beam booster技術(shù)具有鏡筒內(nèi)的電子加減速功能,可確保獲得小束斑和高信噪比;
· Gemini 鏡筒內(nèi)探測器的設(shè)計可實現(xiàn)信號的高效采集,實現(xiàn)二次電子(SE)和背散射電子(BSE)同時成像,有效縮短了成像時間。
為您的應(yīng)用帶來以下便利:
· 經(jīng)校準(zhǔn)后的SEM具有長期的穩(wěn)定性,您在使用時只需要簡易地設(shè)定各項系統(tǒng)參數(shù),如束流和加速電壓等。
· 無漏磁的透鏡設(shè)計,可實現(xiàn)無畸變的高分辨成像。
· 鏡筒內(nèi)二次電子探測器具有高效的SE 1信號采集效率,給您呈現(xiàn)來自樣品極表面的真實形貌圖像;
· 鏡筒內(nèi)背散射探測器設(shè)計理念使您在極低電壓下也可獲得真實的成分襯度圖像。
2、 Gemini 2:分析利器
要獲取樣品更加完整的信息,掃描電子顯微鏡必須在成像和分析方面都具備優(yōu)異的性能,同時能給用戶簡單易用的操作體驗。
Gemini 2鏡筒可滿足您的以下需求:
· 場發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460配有雙聚光鏡的Gemini 2鏡筒
· 在確保獲得出色的小束斑的同時,束流連續(xù)可調(diào)
· 可在小束流的高分辨成像與大束流的分析模式之間進(jìn)行無縫切換
· 調(diào)整拍攝參數(shù)后無需對電子束進(jìn)行重新對中,節(jié)省您的時間和精力
· 操作靈活易用,大束流密度下的高分辨成像、小束流分析、大束流分析等各類不同的工作模式,一切由您而定
· 物鏡無漏磁設(shè)計可以讓您獲得無畸變的EBSD花樣,還可以在大視野范圍內(nèi)進(jìn)行高分辨成像
· 傾斜樣品時不影響電子光學(xué)性能。即使磁性樣品也能輕松成像
· 選擇適合樣品的消荷電模式:局部電荷中和,腔室內(nèi)可變氣壓或NanoVP
3、 Gemini 3:前沿
低電壓,高分辨是場發(fā)射掃描電鏡(FE-SEM)進(jìn)化的方向。
(1) 這對于以下樣品非常重要:
· 電子束敏感樣品
· 不導(dǎo)電材料
· 獲得真實的樣品極表面信息,而不會有來自樣品深層中的背景信號
Gemini 3光路設(shè)計針對低電壓和極低電壓下的分辨力以及襯度增強(qiáng)進(jìn)行了優(yōu)化,可確保在從1 kV到30 kV的所有工作條件下獲得優(yōu)異分辨力。Gemini 3鏡筒擁有兩個可協(xié)同工作的組件:Nano-twin透鏡和新型電子光學(xué)引擎Smart Autopilot。其他技術(shù)特征包括高分辨力模式和可選的樣品臺減速模式。
(2) Nano-twin透鏡:
· 低電壓和超低電壓下的亞納米分辨力成像,具有出色的信號檢測效率
· 低電壓下的像差是傳統(tǒng)Gemini物鏡的三分之一——施加在樣品上的磁場也是傳統(tǒng)Gemini物鏡的三分之一,約為1 mT
· 優(yōu)化的幾何設(shè)計以及靜電和磁場分布
· 低電壓成像條件下增強(qiáng)的鏡筒內(nèi)探測器的信號
這些特點(diǎn)為1 kV以下的亞納米成像提供了可能,而無需將樣品浸入電磁場中。
(3) Smart Autopilot
Smart Autopilot與Nano-twin透鏡結(jié)合使用,可為您帶來以下優(yōu)勢:
· 通過聚光鏡優(yōu)化所有工作條件下的電子束會聚角,可在任意電壓下獲得優(yōu)異分辨率
· 通過新的大視野概覽模式實現(xiàn)樣品導(dǎo)航與高分辨成像之間的無縫過渡
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